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Hoeschen, C. ; Tischenko, O. ; Renger, B.* ; Jungnickel, K.*

Separating the uncorrelated noise from the correlated detector noise of flat panel systems in order to quantify flat panel noise easily.

In: Proceedings (Medical Imaging 2005: Physics of Medical Imaging). Bellingham, WA: SPIE, 2005. 51-60 (Proceedings of SPIE ; 5745)
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Publikationstyp Artikel: Konferenzbeitrag
Konferenztitel Medical Imaging 2005: Physics of Medical Imaging
Konferenzband Proceedings
Quellenangaben Band: 5745, Heft: , Seiten: 51-60 Artikelnummer: , Supplement: ,
Reihe Proceedings of SPIE
Verlag SPIE
Verlagsort Bellingham, WA